Banyak elemen dan perangkat semikonduktor memerlukan pengukuran tegangan arus (IV) dan tegangan kapasitansi (CV) untuk mengetahui informasi penting tentang manufacturing process atau memvalidasi kinerja dari sebuah perangkat. Secara tradisional, pengukuran IV dilakukan dengan source measure unit (SMU) dan pengukuran CV dilakukan dengan LCR meter, capacitance measurement unit (CMU), atau impedance analyzer.
Untuk meningkatkan prosedur pengujian, banyak sistem pengukuran telah dirancang untuk bekerja secara otomatis, di mana tidak diperlukan campur tangan pengguna manual untuk beralih di antara dua jenis pengukuran ini untuk perangkat tertentu yang sedang diuji. Namun, banyak dari sistem otomatis tradisional ini belum beradaptasi dengan tren industri semikonduktor dan datang dengan tantangan dan keterbatasan.
Karena kompleksitas semikonduktor terus meningkat dengan cepat dan jendela waktu-ke-pasar menyempit, throughput sistem pengukuran harus menyesuaikan arsitektur sistem tradisional masa lalu tanpa biaya yang terlalu tinggi.
Produk terbaru dari NI dapat menjadi jawaban dari masalah ini, PXIe-4190 LCR Meter dan SMU menggabungkan fungsionalitas kedua jenis instrumentasi ini ke dalam single-slot PXI Card yang memberikan pengalaman pengujian yang lebih mulus dengan throughput yang lebih tinggi, higher channel density, simple integration, dan biaya kepemilikan yang lebih rendah, semuanya dilengkapi oleh software driver NI yang powerful dan portofolio pendukung PXI instruments. Anda tidak perlu merubah-rubah aksesoris maupun device yang dibutuhkan.
Solusi lengkap terkait CV/IV measurements system dari NI bisa anda pelajari dengan membaca whitepaper yang bisa anda download melalui tombol di bawah ini.
Jika anda memiliki pertanyaan produk terkait atau produk lainnya dari NI, anda dapat menghubungi kami melalui Email sales@haliatech.com dan melalui telefon (021) 2217-8880.
Related Posts
Leave a reply