Sistem Akuisisi Strain Gauge Berkecepatan Tinggi Untuk Sistem Split Hopkinson Pressure Bar

Sistem Akuisisi Strain Gauge Berkecepatan Tinggi Untuk Sistem Split Hopkinson Pressure Bar Tantangan:             Dibutuhkan sistem akuisisi berkecepatan tinggi untuk membaca pola perubahan nilai strain pada sistem Split Hopkinson Pressure Bar (SHPB). Solusi: Merancang sistem akuisisi pengujian Split-Hopkinson Pressure Bar (SHPB) berbasis LabVIEW dengan menggunakan Strain Gauge Amplifier dan Osiloskop...

Sistem Akuisisi Strain Gauge Berkecepatan Tinggi Untuk Sistem Split Hopkinson Pressure Bar

Tantangan:

            Dibutuhkan sistem akuisisi berkecepatan tinggi untuk membaca pola perubahan nilai strain pada sistem Split Hopkinson Pressure Bar (SHPB).

Solusi:

Merancang sistem akuisisi pengujian Split-Hopkinson Pressure Bar (SHPB) berbasis LabVIEW dengan menggunakan Strain Gauge Amplifier dan Osiloskop untuk solusi sistem akuisisi berkecepatan tinggi. 

Split-Hopkinson Pressure Bar (SHPB) merupakan salah satu metode yang umum digunakan untuk mengetahui karakter dinamis dari suatu material. Pengujian SHPB dilakukan dengan memperhatikan pola perubahan strain pada Incident Bar dan Transmission Bar.

Gambar 1. Ilustrasi sederhana pengujian SHPB

Striker bar akan diluncurkan pada kecepatan tinggi oleh gas launcher. Incident wave yang terbentuk saat proses tumbukan akan ditransmisikan ke specimen. Incident wave yang melewati incident bar akan diukur dengan menggunakan strain gauge. Incident wave yang mengenai specimen, sebagiannya akan menjadi transmitted wave dan sebagiannya lagi akan menjadi reflected wave.

Transmitted wave akan ditransmisikan ke transmission bar dan reflected wave akan kembali ditransmissikan ke incident bar, dan keduanya akan diukur menggunakan strain gauge pada masing-masing bar.

Proses pengujian pada alat ini terjadi sangat cepat hingga dibutuhkan lah sistem akuisisi yang sangat cepat pula (diatas 100 ribu sample/s) agar dapat memperoleh data dinamika perubahan nilai strain wave (gelombang regangan) dengan baik.

Gambar 2. Skema Sistem Akuisisi

Strain gauge yang terpasanag pada striker bar dan transmission bar disambungkan ke strain gauge amplifier. Pada amplifier telah terdapat rangkaian jembatan wheatstone yang digunakan untuk membaca perubahan resistansi dari strain gauge tersebut dan juga terdapat rangkaian penguat. Osiloskop akan membaca sinyal analog dari strain gauge amplifier yang mana data pembacaan tersebut akan dikirimkan ke computer.

Gambar 3. Strain wave pada osiloskop
Gambar 4. Indikator Metadata dan Grafik Data RAW

Dengan kemudahan dari LabVIEW untuk berinteraksi dengan banyak perangkat, sistem yang dikembangkan juga dapat digunakan untuk mengubah pengaturan pada osiloskop dan strain gauge amplifier melalui komunikasi GPIB dan Serial.

Gambar 5. Strain Gauge Amplifier Setting

Jika Anda memiliki seputar aplikasi ini atau solusi umum terkait topik ini ataupun topik lainnya, silakan menghubungi kami di sales@haliatech.com atau support@haliatech.com .

Informasi penulis :

Reza Ar Raffi Birahmatika

M. Dani Anwar

Bekasi Jawa Barat Indonesia

(021) 2217-8880

Leave a reply

Open chat
Hi!
Apakah ada yang bisa kami bantu?